高低溫試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述:為限制輻射影響,設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于3%,且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。高低溫試驗(yàn)箱
所屬分類(lèi):高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-08-18
廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
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高低溫試驗(yàn)箱
高低溫試驗(yàn)箱
小型高低溫試驗(yàn)箱用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于3%,且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
觀察窗內(nèi)側(cè)安裝 EC 膜加熱除霜裝置,使您在任何時(shí)候都可以通過(guò)觀察窗清晰地觀察箱內(nèi)供試樣品的試驗(yàn)狀況。
顯示器(彩色觸摸式控制屏)
程序儲(chǔ)存容量 120 組(每種模式大 99 步)
循環(huán)次數(shù):全部循環(huán) 999 次,部份循環(huán) 4 組,每組 99 次
HGTH 系列產(chǎn)品能滿(mǎn)足以下各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn):
GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗(yàn) A:低溫試驗(yàn)方法。
GB-2423.2-89(IEC68-2-2)試驗(yàn) B:高溫試驗(yàn)方法。
GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗(yàn)。
GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。
- 內(nèi)容量:30L/40L(可定制)
- 溫度范圍:-40℃~150℃
- 溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
- 溫度均勻性:≤2.0℃
- 溫度下降時(shí)間:+75℃~ -40℃(120分鐘內(nèi))
- 溫度上升時(shí)間:-40℃~ +75℃(60分鐘內(nèi))
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